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使用高溫烘箱需要注意哪些高溫烘箱的使用方法：1、打開箱門，將待處理物件放入箱內擱板上(擺放不能過密，不利于箱內空氣充分循環)，關上箱門。2、接通電源，將電源插頭插入220V電源插座，將面板右方的電源開關置于“開”的位置，此時儀表出現數字顯示，表示設備進入工作狀態。3、通過操作控制面板上的溫度控制器，設定您所需要的箱內溫度。4、儀器開始工作，箱內溫度逐漸達到設定值，經過所需的干燥處理時間后，處理工作完成。5、關閉電源，待箱內溫度接近環境溫度后，打開箱門，取出物件。高溫烘箱的注意事項：1、打掃表面及內腔...

2023 9-5
恒溫恒濕箱對使用環境有哪些要求恒溫恒濕箱由調溫(加溫、制冷)和增濕兩部分組成。通過安裝在箱體內頂部的旋轉風扇，將空氣排入箱體實現氣體循環、平衡箱體內的溫、濕度，由箱體內置的溫、濕度傳感器采集的數據，傳至溫、濕度控制器(微型信息處理器)進行編輯處理，下達調溫調濕指令，通過空氣加熱單元、冷凝管以及水槽內加熱蒸發單元的共同完成。恒溫恒濕箱對使用環境的要求：1、排它性每一次進行的環境或可靠性試驗，對環境因素的類別、量值及容差都有嚴格的規定，并排除非試驗所需的環境因素滲透其中，以便在試驗中或試驗結束后判斷和分析產品...

2023 8-2
說說位相差測量的意義和原理位相差測量對于現代科技的發展具有重要意義。它能夠揭示電磁波、光波以及其他波動現象的本質。在現代科技領域廣泛應用于通信、雷達、遙感、光學等領域。它能夠揭示電磁波、光波以及其他波動現象的本質，為科學研究和技術發展提供重要的理論依據。測量的原理基于波動現象中的相位差。在波動現象中，每個波動元素的相位在傳播過程中會發生變化。測量就是通過測量波動元素的相位差來獲取相關信息。在電磁波和光波的傳播過程中，相位差的變化會導致能量的衰減或增強。通過分析波動元素之間的位相差，可以研究波動現象的傳...

2023 8-1
泄漏測試機的安裝注意事項泄漏測試機的安裝須注意：1、安裝位置：建議安裝在盡可能靠近可燃性氣體泄漏點的位置(視氣體種類或高或低)或根據實際情況及相關行業規范要求布置，這樣可以提高實際反應速度。安裝位置確定的原則是：被檢測的對象比空氣重時，應安裝在泄漏點的下方，相反則裝在泄漏點的上方。2、安裝方法：選好安裝位置后，將儀器固定。安裝方式可用膨脹螺栓將儀器直接固定在墻上或用管箍固定在管路上，外殼必須可靠接入大地。泄漏測試機的使用方法：1、接通儀器電源，熱機5-30分鐘，不同品牌機型要求不一樣。2、將兩條帶有...

2023 7-5
光學軸測量原理及其應用領域光學軸測量是一種常見的測量技術，通過利用光學儀器對物體進行觀察和測量，以確定其軸線位置和方向。下面將介紹測量的原理和方法，并探討其在工程、制造和科學研究等領域的應用。一、原理1、光學面板：光學軸測量常使用的光學面板有劃線板、光柵板等。它們具有高精度的刻線和標記，可以提供參考線和度量尺度，用于測量目標物體的位置和方向。2、視場放大：利用光學顯微鏡、望遠鏡等設備，將目標物體放大到可觀察的尺寸，并提供清晰的圖像，使軸線測量更加準確。3、對尺測量：通過對尺等長度測量工具，確定目標物體...

2023 7-4
談談光學軸測量在現代工業中的應用隨著現代工業的不斷發展，各種精密零部件和設備的制造變得越來越復雜和精細。而在這些制造過程中，光學軸測量技術正逐漸成為一種常用的測試手段。這是通過利用光學儀器測量機械結構上各個部位之間位置關系的理論和方法。該技術的基本原理是，通過一個系統的光學系統，使測試物體的各個部位的信息從物體反射回來，最后在顯微鏡下讀取并記錄測量結果，從而得到零件之間的幾何相對位置，以此來評判零件的質量。與傳統的測量方法相比，光學軸測量具有非常高的測量精度，可以達到亞微米級別。通過光學儀器進行測量，無需物...

2023 6-6
腐蝕試驗箱正確使用方法及保養技巧腐蝕試驗箱的使用方法：1、使用試驗箱之前請仔細閱讀說明書中安全要求和設備上的安全標識。2、不要在設備沒有安裝好之前運行設備。3、確保安裝可靠后再進行試驗。4、警示內有試樣時移動試驗箱，否則試樣可能反轉或跌落。5、試驗工作結束，不用試驗箱時，務必關掉總電開關，以防雷擊等以外情況。6、試驗箱必須水平安裝，否則可能會引起報警或控制不穩。7、如果箱內放置發熱試樣時，試樣控制電源請使用外加電源，不要直接使用本機電源。8、試驗箱在安裝時箱體外殼必須接地，如果試驗箱沒有接地，一旦漏電則會有...

2023 6-5
說說位相差測定裝置在實際應用中的作用位相差測定裝置是一種可以用來測量光學系統中位相差的設備。它廣泛應用于光學元件的制造、檢測以及光學系統的調試和精密測量等領域。下面將介紹裝置的原理、特點以及在實際應用中的作用。裝置利用干涉法測量光路中的位相差，其原理是將測試光束和參考光束進行干涉，通過干涉信號的變化來反映光路中的位相差。常見的位相差測定方法包括菲涅爾透鏡法、Michelson干涉法、Zernike相位差法等。1、高精度：由于位相差是光學系統中一個重要參數，因此位相差測定裝置具有非常高的精度，可以達到亞微級別的測...

2023 5-23

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