位相差測定裝置可用于數字微波通信系統中作為信道切換控制該裝置可以檢測兩個相同數據序列之間的相位差，兩個數據序列中的每一個由兩個獨立的傳輸通道之一傳輸。每個數據序列由串行轉換為一個位序列，其個數等于該數據序列的預定公共測量值。其中有幾個比較器和一個判斷電路，用于檢測一個數據序列生成的比特序列與另一個具有相同標簽的數據序列生成的比特序列之間的比特差。

　　

　　1、測量范圍寬

　　

　　從低相位差（2nm）到高相位差（20000nm）

　　

　　2、高精度測量

　　

　　實現方向的高精度和長期穩定性測量

　　

　　3、日常維護減少耗材

　　

　　采用標準LED光源，無需更換光源

　　

　　4、與kobra-w系列共通

　　

　　樣品架，可選夾具共享

　　

　　5、操作注意事項

　　

　　與kobra-w系列相比，開口部較大

　　

　　6、設備尺寸法

　　

　　比kobra-w更緊湊

　　

　　7、1nm寬測量范圍，高重復精度±1nm，良好的可操作性

　　

　　位相差測定裝置都有哪些用途？

　　

　　1、光學功能膜研發、品質管理。

　　

　　2、延伸膜的取向評價（三維折射率、表面取向）。

　　

　　3、包裝薄膜的熱收縮和撕裂評價。

　　

　　4、液晶裝置用雙絞線波長色散特性評價。

　　

　　5、光學器件中透射橢圓偏振光的評估。